03(003)主轴起旋时间 Spin Up Time
主轴起旋时间就是主轴电机从启动至达到额定转速所用的时间,数据值直接显示时间,单位为毫秒或者秒,因此数据值越小越好。不过对于正常硬盘来说,这一项仅仅是一个参考值,硬盘每次的启动时间都不相同,某次启动的稍慢些也不表示就有问题。
硬盘的主轴电机从启动至达到额定转速大致需要4秒~15秒左右,过长的启动时间说明电机驱动电路或者轴承机构有问题。旦这一参数的数据值在某些型号的硬盘上总是为0,这就要看当前值和最差值来判断了。
对于固态硬盘来说,所有的数据都是保存在半导体集成电路中,没有主轴电机,所以这项没有意义,数据固定为0,当前值固定为100。
B7(183)串口降速错误计数 SATA Downshift Error Count
这一项表示了SATA接口速率错误下降的次数。通常硬盘与主板之间的兼容问题会导致SATA传输级别降级运行。
B8(184)I/O错误检测与校正 I/O Error Detection and Correction(IOEDC)
“I/O错误检测与校正”是惠普公司专有的SMART IV技术的一部分,与其他制造商的I/O错误检测和校正架构一样,它记录了数据通过驱动器内部高速缓存RAM传输到主机时的奇偶校验错误数量。
B8(184)点到点错误检测计数 End to End Error Detection Count
Intel第二代的34nm固态硬盘有点到点错误检测计数这一项。固态硬盘里有一个LBA(logical block addressing,逻辑块地址)记录,这一项显示了SSD内部逻辑块地址与真实物理地址间映射的出错次数。
B8(184)原始坏块数 Init Bad Block Count(Indilinx芯片)
硬盘出厂时已有的坏块数量。
BD(189)高飞写入 High Fly Writes
磁头飞行高度监视装置可以提高读写的可靠性,这一装置时刻监测磁头的飞行高度是否在正常范围来保证可靠的写入数据。如果磁头的飞行高度出现偏差,写入操作就会停止,然后尝试重新写入或者换一个位置写入。这种持续的监测过程提高了写入数据的可靠性,同时也降低了读取错误率。这一项的数据值就统计了写入时磁头飞行高度出现偏差的次数。
BD(189)出厂坏块计数 Factory Bad Block Count(Micron 镁光芯片)
BE(190)气流温度 Airflow Temperature
这一项表示的是硬盘内部盘片表面的气流温度。在希捷公司的某些硬盘中,当前值=(100-当前温度),因此气流温度越高,当前值就越低,最差值则是当前值曾经到达过的最低点,临界值由制造商定义的最高允许温度来确定,而数据值不具实际意义。许多硬盘也没有这一项参数。
C2(194)温度 Temperature
温度的数据值直接表示了硬盘内部的当前温度。硬盘运行时最好不要超过45℃,温度过高虽不会导致数据丢失,但引起的机械变形会导致寻道与读写错误率上升,降低硬盘性能。硬盘的最高允许运行温度可查看硬盘厂商给出的数据,一般不会超过60℃。
不同厂家对温度参数的当前值、最差值和临界值有不同的表示方法:希捷公司某些硬盘的当前值就是实际温度(摄氏)值,最差值则是曾经达到过的最高温度,临界值不具意义;而西部数据公司一些硬盘的最差值是温度上升到某值后的时间函数,每次升温后的持续时间都将导致最差值逐渐下降,当前值则与当前温度成反比,即当前温度越高,当前值越低,随实际温度波动。
C3(195)硬件ECC校正 Hardware ECC Recovered
ECC(Error Correcting Code)的意思是“错误检查和纠正”,这个技术能够容许错误,并可以将错误更正,使读写操作得以持续进行,不致因错误而中断。这一项的数据值记录了磁头在盘片上读写时通过ECC技术校正错误的次数,不过许多硬盘有其制造商特定的数据结构,因此数据量的大小并不能直接说明问题。
C3(195)实时无法校正错误计数 On the fly ECC Uncorrectable Error Count
这一参数记录了无法校正(UECC)的错误数量。
C3(195)编程错误块计数 Program Failure block Count(Indilinx芯片)
C6(198)脱机无法校正的扇区计数 Offline Uncorrectable Sector Count
数据应为0,当前值应远大于临界值。
这个参数的数据累计了读写扇区时发生的无法校正的错误总数。数据值上升表明盘片表面介质或机械子系统出现问题,有些扇区肯定已经不能读取,如果有文件正在使用这些扇区,操作系统会返回读盘错误的信息。下一次写操作时会对该扇区执行重映射。
C6(198)总读取页数 Total Count of Read Sectors(Indilinx芯片)
C7(199)Ultra ATA访问校验错误率 Ultra ATA CRC Error Rate
这个参数的数据值累计了通过接口循环冗余校验(Interface Cyclic Redundancy Check,ICRC)发现的数据线传输错误的次数。如果数据值不为0且持续增长,表示硬盘控制器→数据线→硬盘接口出现错误,劣质的数据线、接口接触不良都可能导致此现象。由于这一项的数据值不会复零,所以某些新硬盘也会出现一定的数据量,只要更换数据线后数据值不再继续增长,即表示问题已得到解决。
C7(199)总写入页数 Total Count of Write Sectors(Indilinx芯片)
C8(200)写入错误率 Write Error Rate / 多区域错误率 Multi-Zone Error Rate(西部数据)
数据应为0,当前值应远大于临界值。
这个参数的数据累计了向扇区写入数据时出现错误的总数。有的新硬盘也会有一定的数据量,若数据值持续快速升高(当前值偏低),表示盘片、磁头组件可能有问题。
C8(200)总读取指令数 Total Count of Read Command(Indilinx芯片)
C9(201)脱道错误率 Off Track Error Rate / 逻辑读取错误率 Soft Read Error Rate
数据值累积了读取时脱轨的错误数量,如果数据值不为0,最好备份硬盘上的资料。
C9(201)TA Counter Detected(意义不明)
C9(201)写入指令总数 Total Count of Write Command(Indilinx芯片)
CA(202)数据地址标记错误 Data Address Mark errors
此项的数据值越低越好(或者由制造商定义)。
CA(202)TA Counter Increased(意义不明)
CA(202)剩余寿命 Percentage Of The Rated Lifetime Used(Micron 镁光芯片)
当前值从100开始下降至0,表示所有块的擦写余量统计。计算方法是以MLC擦写次数除以50,SLC擦写次数除以1000,结果取整数,将其与100的差值作为当前值(MLC预计擦写次数为5000,SLC预计擦写次数为100000)。
CA(202)闪存总错误bit数 Total Count of error bits from flash(Indilinx芯片)
CB(203)软件ECC错误数 Run Out Cancel
错误检查和纠正(ECC)出错的频度。
CB(203)校正bit错误的总读取页数 Total Count of Read Sectors with correct bits error(Indilinx芯片)
CC(204)软件ECC校正 Soft ECC Correction
通过软件ECC纠正错误的计数。
CC(204)坏块满标志 Bad Block Full Flag(Indilinx芯片)
CD(205)热骚动错误率 Thermal Asperity Rate (TAR)
由超温导致的错误。数据值应为0。
CD(205)最大可编程/擦除次数 Max P/E Count(Indilinx芯片)
E6(230)GMR磁头振幅 GMR Head Amplitude
磁头“抖动”,即正向/反向往复运动的距离。
E7(231)温度 Temperature
温度的数据值直接表示了硬盘内部的当前温度,与(C2)项相同。
E7(231)剩余寿命 SSD Life Left
剩余寿命是基于P/E周期与可用的备用块作出的预测。新硬盘为100;10表示PE周期已到设计值,但尚有足够的保留块;0表示保留块不足,硬盘将处于只读方式以便备份数据。
E8(232)寿命余量 Endurance Remaining
寿命余量是指硬盘已擦写次数与设计最大可擦写次数的百分比,与(CA)项相似。
E8(232)预留空间剩余量 Available Reserved Space(Intel芯片)
对于Intel的SSD来说,前边05项提到会保留一些容量来准备替换损坏的存储单元,所以可用的预留空间数非常重要。当保留的空间用尽,再出现损坏的单元就将出现数据丢失,这个SSD的寿命就结束了。所以仅看05项意义并不大,这一项才最重要。这项参数可以看当前值,新的SSD里所有的预留空间都在,所以是100。随着预留空间的消耗,当前值将不断下降,减小到接近临界值(一般是10)时,就说明只剩下10%的预留空间了,SSD的寿命将要结束。这个与(B4)项相似。
E9(233)通电时间累计 Power-On Hours
对于普通硬盘来说,这一项与(09)相同。
E9(233)介质磨耗指数 Media Wareout Indicator(Intel芯片)
由于固态硬盘的擦写次数是有限的,当到达一定次数的时候,就会出现大量的单元同时损坏,这时候预留空间也顶不住了,所以这项参数实际上表示的是硬盘设计寿命。Intel的SSD要看当前值,随着NAND的平均擦写次数从0增长到最大的设计值,这一参数的当前值从开始的100逐渐下降至1为止。这表示SSD的设计寿命已经终结。当然到达设计寿命也不一定意味着SSD就立即报废,这与闪存芯片的品质有着很大的关系。